Kombinierte Mess- und Schutzschaltung für MEMS-Bauelemente

Am Fraunhofer IPMS werden MEMS-Scanner entwickelt und gefertigt, die Lichtstrahlen dynamisch in einer oder in zwei orthogonalen Richtungen auslenken. Beim Test dieser Bauteile wird eine Schutzschaltung eingesetzt, die das Zerstören der getesteten Bauelemente durch zu hohe Spannungen (bis zu 200 V) verhindert.

Ihre Aufgaben:

Diese Schutzschaltung soll so überarbeitet und erweitert werden, dass die Auslösespannung gemessen wird und als ein charakteristischer Parameter den Testprogrammen zur Verfügung steht. Außerdem soll die Schutzschaltung durch eine Benutzer- und eine Softwareschnittstelle parametrisiert werden können.

Weitere Informationen

Unternehmen

Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.

Bereich/Abteilung

Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme

Abschlussart

Bachelorarbeit / Masterarbeit / Diplomarbeit

Ansprechpartner/in

Name: Herr Dr. Markus Schwarzenberg | Tel.: 0351/8823-294

Branche

Forschung und Entwicklung

Anforderungen

• Studium der Fachrichtungen: Informatik, Mathematik, Elektrotechnik, Physik oder Ingenieurwesen
• Gute Kenntnisse im Bereich der Elektrotechnik
• Programmierkenntnisse auf einer microcontrollerbasierten Plattform mit Hardwareschnittstellen (z.B. Arduino), vorzugsweise in C und C++

Die praktischen Arbeiten vor Ort im IPMS haben eine sehr hohe Relevanz für die erfolgreiche Lösung der Aufgabe.
Vorausgesetzt wird eine selbstständige, systematische Arbeitsweise, Experimentierfreude, Kreativität und ein sicherer Umgang mit der deutschen und der englischen Sprache (technisches Englisch).

Zusatzinformationen

Die Prüfungsleistung erfolgt über die Anbindung an eine deutsche Fachhochschule/Universität und richtet sich nach dem jeweiligen Landeshochschulgesetz. Die Durchführung der wissenschaftlichen Arbeit ist in der Gruppe Mikroscanner am Fraunhofer IPMS in Dresden vorgesehen.

Die Aufgabe kann auch im Rahmen einer Bachelor- oder Masterarbeit sowie eines Praktikums durchgeführt werden.